潘建根认为,随着半导体照明的深入发展,对全面客观表征LED和LED灯具的要求也越来越高,全空间分布光度测量技术的研发成功为解决这些问题提供解决办法。全空间光度学能够为真实的光源建立模型,用户能够直观且精确地得到光源或灯具的光线分布,全空间任一截面(平面或这曲面)内的照度分布,远场光强分布以及从不同方向观察光源或灯具的亮度分布等重要参量。这些量值都是传统的光度测量所不能够实现的,全空间光度测量技术必将发挥越来越重要的作用,对光源测量和光学设计带来革命性的影响。
潘建根还表示,在国家863项目的扶持下,我国率先成功开发了拥有核心自主知识产权的全空间分布光度计系统,并且凭借技术优势,该全空间分布光度计的开发单位杭州远方光电信息有限公司参与了CIE相关标准的研制工作。目前该全空间分布光度计已经为国内外多家LED灯具测量实验室和大型制造商使用,获得了一致好评。