产品特色:
极亮至极暗的高动态检测范围(HDR),最适用于光通量评价。
杂散光对应,展現优异的UV领域评价。相较于本公司以往机型,杂散光率仅约五分之一!
针对测量样品,具备5msec.~65sec.*1的测量速度。
特殊缠绕设计的光纤,测量光源不因光纤移动或入射光方向改变而产生偏移,展現出更低的装置间数据误差。
轻量化设计,相较于以往机型,减少约40%的体积与重量,方便移动式测量。
*1标准规格最长20sec
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应用范围:
规格样式:
发光光谱测量 |
穿透率、吸收率光谱测量 |
反射率光谱测量 |
荧光测量 |
物体色测量 |
光源色测量(色度、辉度、照度) |
膜厚测量 |
规格样式:
3683C
|
311C
|
2480C
|
||||
波长范围 |
360 ~ 830 nm
|
360 ~ 1100 nm
|
240 ~ 800 nm
|
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分光元件 |
全息成像光柵分光, F=3,f=85.8mm
|
|||||
感光元件 |
CCD影像感测器(电子制冷)
|
|||||
512ch
|
1024ch
|
512ch
|
1024ch
|
512ch
|
1024ch
|
|
解析能力 |
1.0nm
|
0.5nm
|
1.6nm
|
0.8nm
|
1.2nm
|
0.6nm
|
光纤规格 |
石英制光纤,金属包覆,固定口径∮12mm,长约2m
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测量功能 |
发光光谱、穿透率、吸收率光谱、反射率光谱
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|||||
尺寸重量 |
110(W) x 230(H)x 282(D)mm ,约6kg
|
应用范围:
■ 发光光谱分析仪系统
■ 反射光谱分析仪系统
■ 穿透、吸收光谱分析仪系统
■ 色度光谱分析仪系统
■ 光源光谱分析仪系统(色度/辉度/照度)
■ 膜厚光谱分析仪系统
■ 荧光光谱分析仪系统
■ 双折射相位差光谱分析仪系统
■ 微光學元件光谱分析仪系统
■ 反射光谱分析仪系统
■ 穿透、吸收光谱分析仪系统
■ 色度光谱分析仪系统
■ 光源光谱分析仪系统(色度/辉度/照度)
■ 膜厚光谱分析仪系统
■ 荧光光谱分析仪系统
■ 双折射相位差光谱分析仪系统
■ 微光學元件光谱分析仪系统
选配附件:
■ 光学配件
■ 光纤
■ 测量平台
■ 测量光源
■ 专用软件
■ 其它
■ 光纤
■ 测量平台
■ 测量光源
■ 专用软件
■ 其它